|
|
автоионный микроскоп
ионный проектор
Безлинзовый ионно-оптич. прибор для получения увелич. в неск. миллионов раз изображения поверхности тв. тела. С помощью а. м. можно различать детали поверхности, раздел, на 0,2-0,3 нм, что дает возможность наблюдать располож. отд. атомов в кристаллич. решетке. А. м. изобретен в 1951 г. нем. ученым Э. Мюллером. Принц. схема а. м. показана на рис. Положит. электродом и одноврем. объектом, поверхность к-рого изоб-раж. на экране, служит острие тонкой иглы. Атомы (или молекулы) газа, заполн. внутр. объем прибора, ионизир. в сильном электрич. поле вблизи поверхности острия, отдавая ему свои эл-ны. Возникшие положит. ионы, приобретая под действием поля радиальное (перпендик. поверхности острия) ускорение, устремляются к флюоресцирующему экрану (потенциал к-рого отрицателен) и бомбардируют его. Свечение каждого элемента экрана пропорц. плотности приходящегося на него ион. потока. Поэтому чем тоньше острие, тем больше увеличение. А. м. широко применяют для исследования ат. структуры металлов и сплавов и ее связи с их механич. св-вами; дефектов в кристаллах; процессов коррозии; адсорбции и десорбции; св-в тонких пленок, осажд. на поверхности металлов, и др.
[http://metaltrade.ru/abc/a.htm] |
|
EN |
|
|
FR |
|
|
|
