растровая электронная микроскопия

Дата последнего изменения:2017.02.28
Сообщить об ошибке

	растровая электронная микроскопия Метод, используемый для анализа частиц из пробы окружающей среды путем осаждения их на проводящую основу и изучения при высоком увеличении (в 1000 - 5000 раз). [IAEA SAFEGUARDS GLOSSARY 2001 Edition]
EN	scanning electron microscopy \| SEM A technique used to analyse particles from an environmental sample by depositing them on a conducting substrate and examining them under high (1000-5000 x) magnification.