PTTC.PNG
Skip to main content.

масс-спектрометрия вторичных ионов
Дата последнего изменения:2016.12.01
Сообщить об ошибке
  масс-спектрометрия вторичных ионов
 Метод измерения изотопного состава ядерного материала в микрометрических частицах окружающей среды путем помещения их на проводящую основу и бомбардировки в вакууме энергетическими ионами.
[ROSATOM Nuclear Safety and Radiation Protection Glossary]
EN secondary ion mass spectroscopy | SIMS
A technique for measuring the isotopic composition of nuclear material in micrometre size environmental particles by mounting them on a conducting substrate and bombarding them in vacuum with energetic ions.
[ROSATOM Nuclear Safety and Radiation Protection Glossary]

Тематики

  • атомная энергетика в целом

EN

  • secondary ion mass spectroscopy
  • SIMS

 

Внимание!

Закрыть