|
сканиxрующая электронная микроскопия
[англ. scan — поле зрения; греч. elektron — смола, янтарь; греч. mikros — малый и scopeo — смотрю, рассматриваю, наблюдаю] — метод анализа поверхностной структуры твердого микрообъекта с помощью электронного микроскопа, заключающийся в просмотре отраженного «электронного изображения». С.э.м. позволяет исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать, а также получать информацию о свойствах подповерхностных структур, заглубленных вплоть до нескольких единиц микрон. Син.: растровая микроскопия.
[В. З.Тарантул. Толковый биотехнологический словарь. Русско-английский] |
EN |
|
FR |
|
|
EN
- scanning electron microscopy
- SEM
|