|
|
встроенные (аппаратные и/или программные) средства самотестирования памяти
встроенный самоконтроль памяти
механизм MBIST
Встроенный самоконтроль памяти может быть реализован как внутри микросхем памяти, так и вне их. Встроенные устройства памяти (ОЗУ, ПЗУ/ППЗУ, флэш-память) являются самыми распространёнными для построения любых систем, в том числе систем на кристалле (SoC), поэтому большое внимание уделяется созданию эффективных методов и средств тестирования и контроля этих устройств (микросхем) в производстве и эксплуатации. Это может быть использование дополнительных схем для тестирования чипов памяти, так называемое тестопригодное проектирование (DFT) – или BIST, когда средства тестирования полностью встраиваются в схемы памяти. Механизм MBIST оказался наиболее экономичным и широкоупотребительным решением проблем тестирования памяти, поскольку он не требует дополнительного внешнего оборудования, прост в проектировании с учётом возможных доработок, позволяет выполнять тесты со скоростью близкой к реальному быстродействию памяти как в онлайновом, так и в офлайновом режиме, а генерация тестовых последовательностей на кристалле (on-chip test pattern generation) обеспечивает хорошую управляемость и наблюдаемость процесса (см. также memory fault, memory testing, repair scheme).
[Э.М. Пройдаков, Л.А. Теплицкий] |
|
EN |
|
|
FR |
|
|
Тематики
- информационные технологии в целом
Синонимы
- встроенный самоконтроль памяти
- механизм MBIST
EN
- MBIST
- memory BIST
- Memory Built-in-Self-Test
|
