PTTC.PNG
Skip to main content.

тест на наличие/отсутствие константных ошибок

Дата последнего изменения:2016.02.23
Сообщить об ошибке
  тест на наличие/отсутствие константных ошибок
тест на наличие/отсутствие постоянных неисправностей
тест на наличие/отсутствие перманентных дефектов
 Используется при автоматизированной проверке микросхем, схемных плат и устройств (см. также BIST, JTAG, stuck-at-0 fault, stuck-at-1 fault, stuck-at fault, stuck-at-open fault, stuck-at-short fault, stuck-at-z fault).
[Э.М. Пройдаков, Л.А. Теплицкий]
EN

FR

Тематики

  • информационные технологии в целом

Синонимы

  • тест на наличие/отсутствие постоянных неисправностей
  • тест на наличие/отсутствие перманентных дефектов

EN

  • stuck-at test

 

Внимание!

Закрыть