PTTC.PNG
Skip to main content.

сканирующая туннельная микроскопия
Дата последнего изменения:2015.11.30
Сообщить об ошибке
  сканирующая туннельная микроскопия
 Разновидность микроскопии с атомным разрешением, при которой для сканирования поверхности образца используется тонкий металлический щуп (обычно из платины или иридия). При приближении щупа к электронному облаку атома, электроны туннелируются — образуют узкий поток между атомом и щупом. При удалении щупа от атома туннелирование ослабляется или прекращается. Компьютер преобразует данные туннелирования от каждой линии (профиля) сканирования в изображение атомной топографии образца, показывающей размеры и особенности расположения атомов. Этот тип микроскопии может использоваться только для изучения проводящих материалов, электроны которых могут туннелироваться. Сокр. STM. См. также сканирующая силовая микроскопия (scanning force microscopy).
[Толковый словарь английских геологических терминов. Виктор Кондратович, ВСЕГЕИ]
EN

FR

Тематики

  • геология, геофизика

EN

  • scanning tunneling microscopy
  • STM

 

Внимание!

Закрыть