сканирующая атомная силовая микроскопия. Справочник технического переводчика. Интент.

	сканирующая атомная силовая микроскопия Разновидность микроскопии с атомным разрешением, при которой тонкий металлический щуп осуществляет нажим на образец и сканирует его. Вертикальные движения щупа при сканировании регистрируются оптической лазерной системой, данные которой затем обрабатываются компьютером и преобразовываются в изображение, показывающее относительные размеры, распределение атомов и топографию сканированной поверхности на атомном уровне. Сканирующий атомный силовой микроскоп может использоваться для изучения диэлектриков, поскольку он основан на физических перемещениях щупа, а не на туннелировании электронов. Сокр. SFM. См. также scanning tunneling microscopy. [Толковый словарь английских геологических терминов. Виктор Кондратович, ВСЕГЕИ]
EN
FR

сканирующая атомная силовая микроскопия