PTTC.PNG
Skip to main content.

масс-спектрометр на вторичных ионах
Дата последнего изменения:2014.06.04
Сообщить об ошибке
  масс-спектрометр на вторичных ионах
 (для исследования поверхностей материалов)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]
EN

FR

Тематики

  • энергетика в целом

EN

  • secondary ion mass spectrometer
  • SIMS

 

Внимание!

Закрыть