PTTC.PNG
Skip to main content.

проверка помехоустойчивости микропроцессорных защит при единичных импульсах переходных процессов в наносекундном диапазоне

Автор статьи: Шалыт Израиль Соломонович
Дата последнего изменения:2013.11.02
Сообщить об ошибке
  проверка помехоустойчивости микропроцессорных защит при единичных импульсах переходных процессов в наносекундном диапазоне
-
[В.А.Семенов. Англо-русский словарь по релейной защите]
EN  
FR  

Тематики

  • релейная защита

EN

  • radiated electromagnetic field test

 

Внимание!

Закрыть