|
сканирующая электронная (растровая) микроскопия
Метод анализа поверхностной структуры микрообъекта путем анализа отраженного «электронного изображения» (как правило, при специальном напылении и с применением метода замораживания-высушивания, что позволяет повышать электронную плотность объекта и предотвращать деформации клеточных и др. структур).
[Арефьев В.А., Лисовенко Л.А. Англо-русский толковый словарь генетических терминов 1995 407с.] |
EN |
|
FR |
|
|
EN
- scanning electron microscopy
- SEM
|