сканиxрующая электронная микроскопия. Справочник технического переводчика. Интент.

	сканиxрующая электронная микроскопия [англ. scan — поле зрения; греч. elektron — смола, янтарь; греч. mikros — малый и scopeo — смотрю, рассматриваю, наблюдаю] — метод анализа поверхностной структуры твердого микрообъекта с помощью электронного микроскопа, заключающийся в просмотре отраженного «электронного изображения». С.э.м. позволяет исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать, а также получать информацию о свойствах подповерхностных структур, заглубленных вплоть до нескольких единиц микрон. Син.: растровая микроскопия. [В. З.Тарантул. Толковый биотехнологический словарь. Русско-английский]
EN
FR

сканиxрующая электронная микроскопия